衰减全反射：一种光学/光谱技术与现象。当光在高折射率介质与低折射率介质界面发生全内反射时，会在界面外侧产生一层很浅的倏逝场；若样品在该区域吸收光能，反射光强会出现衰减，据此可进行（常见于红外）表面/薄层分析（如 ATR-FTIR）。
/əˈtɛnjʊeɪtɪd ˈtoʊtəl rɪˈflɛkʃən/
The lab used attenuated total reflection to measure the polymer surface.
实验室使用衰减全反射来测量聚合物表面。
In ATR-FTIR, attenuated total reflection enables rapid analysis of thin films because the evanescent wave probes only a shallow depth.
在 ATR-FTIR 中，衰减全反射使薄膜能够被快速分析，因为倏逝波只探测很浅的深度。
该术语由三部分组成：attenuated（“被削弱的、衰减的”）源自拉丁语 attenuare（使变薄、使减弱）；total reflection 指“全反射/全内反射”。合起来强调：在全反射条件下，由于样品对倏逝场的吸收，反射信号会出现“衰减”，从而形成可用于测量的效应与方法。
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